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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

E-BookPDFDigital Watermark [Social-DRM]E-Book
EUR53,49

Produktbeschreibung

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.
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Details

Weitere ISBN/GTIN9781441995483
ProduktartE-Book
EinbandE-Book
FormatPDF
FormatFormat mit automatischem Seitenumbruch (reflowable)
ErscheinungsortNY
ErscheinungslandUSA
Erscheinungsdatum23.09.2011
Auflage2012
ReiheSpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
SpracheEnglisch
Dateigrösse1579954 Bytes
Illustrationen70 s/w Abbildungen, XVII, 89 p. 70 illus.
Artikel-Nr.7008770
KatalogVC
Datenquelle-Nr.920875
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